01 / LARGE AREA SCAN
大面积快速扫描
从一片晶圆，到一整块玻璃。快速看完整。
SA-1000 支持大范围快速扫描：300 × 300 mm 区域预计 150s，400 × 400 mm 预计 260s，500 × 500 mm 预计 350s。适合晶圆、玻璃、薄膜、极片等大平面样品的快速建图与表面缺陷定位。
查看产品选择适合您检测需求的设备
从一片晶圆，到一整块玻璃。快速看完整。
SA-1000 支持大范围快速扫描：300 × 300 mm 区域预计 150s，400 × 400 mm 预计 260s，500 × 500 mm 预计 350s。适合晶圆、玻璃、薄膜、极片等大平面样品的快速建图与表面缺陷定位。
查看产品粗糙面、镜面、台阶面。交给同一套系统。
融合共焦、白光干涉与聚焦变化三种测量方式：共焦适合从光滑到粗糙的表面，干涉适合超光滑连续表面与超精密台阶高度，聚焦变化可覆盖陡峭斜面与大垂直范围，单次测量角度最高可达 86°。系统测量噪声可低至 80 pm / 0.08 nm，用于三维形貌、台阶高度、粗糙度与平面度分析。
查看产品高低起伏的表面，也能一眼看清。
通过 360° 照明信息与 DPC 算法，将样品表面的微小凹凸以接近电镜的立体效果呈现；配合 4K CMOS 与远心高分辨率镜头，在断口、毛刺、焊点、粗糙表面等样品上获得更完整、更清晰的观察结果。
查看产品不止一种观察方式。也不止一种应用场景。
SLX 将明场、暗场、偏振、金相、生物、荧光、3D 形貌成像与全景瓦片扫描等多种观测模式集成在同一平台中。面对金相组织、半导体样品、荧光样本、涂层材料或复合材料，无需频繁更换主机，即可在不同观察任务之间快速切换。
查看产品让精密测量，成为可靠的日常能力。
赛慕朗专注于精密光学测量与显微分析技术，通过光学系统、精密运动控制、成像算法与分析软件的协同开发，将复杂的微观信息转化为清晰、稳定、可用于判断的检测结果。
我们坚持从真实样品和实际任务出发，持续验证设备在研发、质量检测与生产现场中的表现，让每一套系统不仅能够完成测量，更能够可靠地融入客户的日常工作流程。
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